介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；介電常數(shù)測試儀的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。
 

　　介電常數(shù)測試儀以單片計算機控制儀器，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標準頻率測試點自動設(shè)定、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量時更為。

　　儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

　　介電常數(shù)測試儀可以用于科研機關(guān)，學校，例如一些科研院所，大專院校或計量測試部門的實驗室需要用介電常數(shù)測試儀對絕緣材料的介電常數(shù)進行測試;

　　同時也適用于工廠或單位，例如一些工廠對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用進行研究，另外在電力、電工、化工等領(lǐng)域，如:電廠、*實驗所、變壓器廠、電容器廠、絕緣材料廠、煉油廠等單位對固體及液體絕緣材料的介質(zhì)損耗和相對介電常數(shù)ε的質(zhì)量檢測等等。
 

　　那么介電常數(shù)測試儀的介電強度的影響因素有哪些呢？

　　塑料的電擊穿機理：介電擊穿機理可分為電擊穿、熱擊穿、化學擊穿、放電擊穿等，往往是多種機理綜合發(fā)生。通常把不隨溫度變化的擊穿稱為電擊穿，把隨溫度變化的擊穿稱為熱擊穿。熱擊穿的外部表現(xiàn)是介電強度隨溫度升高而迅速下降，與施加電壓作用的長短有關(guān)；與電場中產(chǎn)生的熱量大于它能散熱的熱量，使其內(nèi)部溫度不斷升高。溫度升高導(dǎo)致其電阻下降，流經(jīng)試樣電流增大，產(chǎn)生的熱量更多，如此循環(huán)不已，致使介質(zhì)轉(zhuǎn)變?yōu)榱硪环N聚焦態(tài)，失去耐電壓能力，材料被破壞。電擊穿的特點是介電強度與周圍介質(zhì)的電性能有關(guān)；擊穿點常常出現(xiàn)在電邊緣其至電以外。

　　介電強度測試的影響因素：電壓波形及電壓作用時間影響。材料在電場作用下，初始時單位時間內(nèi)材料內(nèi)部產(chǎn)生的熱量大于介質(zhì)散發(fā)出去的熱量，進而介質(zhì)溫度升高，溫度的升高是一個由快轉(zhuǎn)滿的，若升壓速度較慢后發(fā)生材料擊穿熱擊穿的成分較大。作用時間的影響多因熱量積累而使擊穿電壓值隨電壓作用增加而下降，處于熱擊穿形式的試樣，基本上隨升壓速度的提高擊穿強度也增大。因此，一般規(guī)定試樣擊穿電壓低于20kv時升壓速度為1.0kv/s；大于或等于20kv時升壓速度為2.0kv/s。電倒角的影響：電邊緣處電場強度遠遠高于內(nèi)部，但邊緣效應(yīng)難消除。為避免電邊緣成一直角，需采用一定倒角r。標準中規(guī)定r=2.50mm。

　　媒質(zhì)電性能影響；高壓擊穿試驗往往把樣品放在一定媒質(zhì)（如變壓器油）中，其目的是為縮小試樣尺寸防止飛弧。但媒質(zhì)本身的電性能對屬于電擊穿為主的材料有明顯影響，而以熱擊穿為主的材料影響小，故標準中對奧球油的擊穿電壓VB＞=25kv/2.5mm。